Koje su štete od ESD-a na elektroničkim uređajima
ESD oštećenja elektroničkih uređaja ESD oštećenja elektroničkih uređaja, bez obzira da li ESD izravno prazni elektroničke uređaje ili neizravno prazni elektroničke uređaje, elektronički uređaji mogu biti oštećeni. Ne samo da može uzrokovati iznenadni kvar funkcije uređaja, već može uzrokovati i potencijalni kvar funkcije uređaja.
1. Iznenadni neuspjeh
Iznenadni kvar znači da kada je elektronički uređaj izložen ESD okruženju, parametri kruga se mogu značajno promijeniti i njegova funkcija može biti izgubljena. ESD može uzrokovati taljenje metala i uzrokovati kratki spoj ili kvar izolacijskog sloja, itd., uzrokujući trajno oštećenje strujnog kruga uređaja. Takvi se kvarovi mogu otkriti u testiranju gotovog proizvoda prije otpreme. Prema relevantnim statistikama, među elektroničkim uređajima oštećenim statičkim elektricitetom, iznenadni kvarovi čine oko 10% ukupnih kvarova.
Jako elektrostatičko polje prouzročit će razbijanje sloja oksida vrata MOS uređaja s efektom polja i uzrokovati kvar uređaja. Općenito, debljina filma oksida vrata MOS uređaja je reda veličine 1 (T7 m). Kada dizajn strujnog kruga ne poduzima zaštitne mjere, čak će se i gusti visokokvalitetni oksidni sloj bez rupa razbiti pod elektrostatičkim naponom od 100 V. Za krugove sa zaštitnim mjerama, iako napon proboja može biti veći od 100 V, napon opasnih statičkih izvora energije može biti nekoliko tisuća volti ili čak nekoliko desetaka tisuća volti. Stoga je učinak kvara visokonaponskih elektrostatičkih polja još uvijek velika opasnost za MOS sklopove. Osim toga, visokonaponsko elektrostatičko polje također može uzrokovati dielektrični slom između višeslojnih krugova ožičenja ili dielektrični slom između metaliziranih žica, uzrokujući kvar kruga.
2. Potencijalni kvar
Potencijalni kvar znači da kada je uređaj izložen ESD okruženju, može uzrokovati djelomičnu degradaciju performansi uređaja', ali privremeno ne utječe na njegovu ispravnu funkciju. Međutim, životni vijek uređaja je znatno skraćen. Ova šteta je kumulativna. Kako se broj doživljenih ESD impulsa povećava, prag napona elektrostatičkog oštećenja uređaja postupno se smanjuje ili se parametri uređaja polako pogoršavaju. Prema statistikama, potencijalni kvarovi čine 90% ukupnog broja kvarova ESD-a u elektroničkim uređajima. Stoga je potencijalni kvar elektroničkih uređaja štetniji.